Volcanology Research Group, Ibaraki Univ @ http://petrolvolc.sci.ibaraki.ac.jp/
分析機器INSTRUMENTS
※茨城大学機器分析センター所有の機器も含む
EDS搭載走査型電子顕微鏡（SEM-EDS）
JEOL IT-200/Oxford Instruments X-Max50（G215）
・火山ガラス・鉱物の観察および定量分析・マッピングに使用
・SEM：高性能かつシンプルで分かりやすいインターフェイス
・SDD検出器：高いX線処理能（受光面積50mm2）により迅速で正確な分析が可能
SEM-EDSの紹介PDFはこちら
蛍光X線分析装置（XRF）
Rigaku ZSX Primus II（茨城大学機器分析センター）
・全岩試料の主成分・微量成分元素の定量に使用（試料自動置換式）
・自動式ビードサンプラー（小さい方の写真）で試料成形
・短時間半定量モード（検量線不要）や元素マッピングも可能
誘導結合プラズマ質量分析計（ICP-MS）
Agilent 7500CX（茨城大学機器分析センター）
・全岩試料の微量成分・希土類元素の定量に使用
・含有量ppm〜ppbの元素を一度に測定可能
・Heモードで多原子イオン干渉除去が可能（干渉補正不要）
マルチビーズショッカー（多検体精密粉砕機）
安井器械 マルチビーズショッカー（理学部G棟）
・XRFやICP-MS分析のための粉末試料処理に使用
・秒速破砕
・粉砕容器をそのまま保管容器にできる（容器の洗浄不要）
電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM +EDS）
HITACHI S-4800/FE-SEM（茨城大学機器分析センター）
OXFORD INCA X-act/EDS（茨城大学機器分析センター）
・極小領域の観察に使用
・FE-SEM：80万倍（分解能1.0nm）の観察が可能（低真空モードによる無蒸着観察も可能）
・SDD検出器：元素マッピングなどが可能
偏光顕微鏡／デジタルカメラ
NICON ECLIPSE 50i POL/DS-Fi2/同L3（理学部G棟）
・岩石薄片の観察・画像処理に使用
・CCDカメラにより高精細画像が取得可
・外付け別機器（小さい方の写真）で鉱物モード測定も可能
レーザ回折散乱式粒子径分布測定装置／電磁式ふるい振とう機
HORIBA LA-300（理学部G棟）
Retsch ふるい振とう機 AS200（理学部G棟）
・粒度分析に使用
・粒径の違いで前者（HORIBA：細粒）と後者（Retsch：粗粒）を使い分け
・前者（大きい方の写真）は600μm~0.1μmまで幅広い測定が可能
プレパラップ（縦軸平面研削機）
マルトー プレパラップオート MG-301（理学部G棟）
・岩石薄片作成に使用
・切込量をダイヤルゲージ（0.01mm間隔）で高精度制御
・作業台は無段変速の自動送り方式
スピナー式磁力計
AGICO JA-6A（理学部G棟）
・岩石の古地磁気方位測定に使用
・試料方向自動置き換え式により短時間測定が可能
・高感度（2.4 x 10-6 A/m）
交流消磁装置・人工磁化着磁装置
AGICO LDA5/PAM1（理学部G棟）
・岩石の交流消磁・着磁実験に使用
・全方向（均一）に交流消磁できるタンブリング機構内臓
・熱消磁装置（別機器）も用いて古地磁気方位を測定
デジタルマイクロスコープ
EYENCE VHX-7000（理学部G棟）
・火山灰や軽石・スコリアの表面形状・発泡度・結晶度などの解析に使用
粉末Ｘ線回折装置（XRD）
Rigaku SmartLab-SP/IUA（茨城大学機器分析センター）
・水蒸気噴火堆積物中の粘土鉱物の同定に使用